實現高電流密度和高擊穿電壓的深超結SiC二極管 (ARD/261)

實現高電流密度和高擊穿電壓的深超結SiC二極管 (ARD/261)

實現高電流密度和高擊穿電壓的深超結SiC二極管 (ARD/261)
ARD/261
種子
01 / 03 / 2021 - 28 / 02 / 2022
2,799.1

馬晨月 博士

興華半導體工業有限公司
芯高科技


與硅材料相比,SiC具有高開關頻率,高導熱能力以及高阻斷電壓等方面的優勢,因此被看作最有前景的大功率電力電子器件的半導體材料。雖然目前在中低壓應用範圍(650V & 1200V),市場上已有可用的SiC二極管產品,然而,當傳統的結構被擴展到高壓應用時(1700V或更高),迅速增大的開態電阻會嚴重限制正向電流密度,因此需要增大芯片面積而導致成本增加。因此,我們需要一種新結構,可以在高擊穿電壓下獲得足夠高的正向電流密度。 超級結結構可以很好的優化開態電阻和反向擊穿電壓的關係,因而有希望突破SiC材料本身的限制。本項目提出一個結合了溝槽結構和深注入超級結的SiC超級結二極管。與傳統的肖特基勢壘二極管(SBD)或者混合二極管(MPS)相比,新結構有希望獲得更高的反向擊穿電壓而不會犧牲正向電流密度。相應設計和工藝也可以擴展到JFET和MOSFET的製造中。本項目的成功不僅將獲得SiC二極管技術的突破,也會將SiC半導體工業引入香港。